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上海析譜薄膜固體測量儀X3PCST透光率測試儀

簡要描述:上海析譜薄膜固體測量儀X3PCST透光率測試儀性能特點:
1、PCST薄膜固體測試儀,采用了全新的光學平臺,ARM芯片控制和處理數據,人機交互操作,儀器單機具有透射測試,吸光度測試。
2、專業測試固體樣品、規格最小 φ1.0mm -500*500mm 厚度:0.01-100mm固體、護目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件,光學性能的測定等

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-04-18
  • 訪  問  量:2009
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名  稱:薄膜固體測試儀

型  號:X3PCST

品  牌:上海析譜

 

上海析譜薄膜固體測量儀X3PCST透光率測試儀產品簡介:

X3PCST透光率測試儀(薄膜固體測試儀)是專為薄膜、玻璃、珠寶、紡織、手機屏、液晶顯示屏等制造行業設計的光譜測試儀。該儀器可以對手機屏、液晶顯示屏進行定波長測試和光譜掃描,是質量監測的檢測工具。

優勢:固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測試,方便快捷、測試數據更準確。

專業測試固體樣品、規格 φ5.0mm -500*500mm  厚度:0.01-100mm固體、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件光學性能的測定等,儀器等級GB/T26798-2011 Ⅱ級.

開機自校;聯PC操作端;軟件版本win10 光譜分析家。

優勢:固體、薄膜、玻璃或者亞克力等 特薄、特厚、特大的樣品直接平放測試,方便快捷、測試數據更準確。

開機自校;聯PC操作端;軟件版本UV9.0 win10 64位。

上海析譜薄膜固體測量儀X3PCST透光率測試儀性能特點:

1、PCST薄膜固體測試儀,采用了全新的光學平臺,ARM芯片控制和處理數據,人機交互操作,儀器單機具有透射測試,吸光度測試。 

2、專業測試固體樣品、規格最小 φ1.0mm -500*500mm  厚度:0.01-100mm固體、護目鏡、薄膜、啤酒瓶、建筑玻璃、觸屏行業、紡織、珠寶鑒定、真空鍍膜等、單層、多層窗玻璃構件,光學性能的測定等。

3、進口環保型氘燈系統,有效減少您對臭氧的吸入;進口OSRAM鎢燈座、OSRAM長壽命鎢燈。

4、插座式氘燈和鎢燈設計,能使您在換燈后免去光學調試的煩惱;

5、寬大的樣品臺,專業測試:特薄、特小、特厚、特大件!測試更方便、更準確、更效率、不再需要任何薄膜夾具,

6、強大的存儲功能,能保存各種類型的數據;

薄膜固體測試儀技術參數:

產品型號

UV-2202PCST

X3PCST

光學系統

單光束 C T 光路結構 1600條/mm 高性能衍射光柵

光譜帶寬

0.5/1/2/4nm

波長范圍

190—1100 nm

325-1100nm

波長分辨率

0.1 nm 光學焦距200mm

數據顯示

2*20液晶顯示(標配UV win10 PC端)

波長精度

±0.3nm (實測0.3nm)±0.1nm(@656.1nmD2,)

波長重復性

≤0.2nm

雜散光

≤0.05%T

光度范圍

0-200%T,-0.301-3.0A,0-9999C

光度精度

±0.002A(0-0.5A), ±0.3%T(0-100%T)

光度重復性

±0.001A(0-0.5A), ±0.15%T(0-100%T)

電源

AC 90-240V

標配:薄膜固體測試儀壹臺、應用軟件壹套、應用數據線一套、隨機資料一份

 


TEL:13798128437

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